+ Home > 분석실안내 > 전자현미경실 > 기기안내
품 명 (영문, 국문) 모 델 명
Transmission Electron Microscope(200kV)
(투과 전자 현미경, M-TEM)
JEOL(Japan) . JEM-2010
Scanning Electron Microscope
(주사 전자 현미경)
HITACHI(Japan) . S-2400
Field Emission Electron Probe X-Ray Micro Analyzer
(전계방사형 전자현미분석기)
JEOL(Japan), JXA-8530F

Field Emission Scanning Electron Microscopee
(전계 방사형 주사전자현미경 )

JEOL(Japan) , JEM-2100F
Transmission Electron Microscope(120kV)
(투 과 전 자 현 미 경, B-TEM )
HITACHI LTD. (JAPAN) H-7500
Low Vacuum Scanning Electron Mircroscope & C.L
(저진공 주사 전자 현미경 )
JEOL(Japan) . JSM-6490LV
Gatan(U.K) Mono CL3+
Field Emission Transmission Electron Microscope
(전계 방사형 투과전자현미경,FE-TEM )
JEOL(Japan) . JEM-2100F

전처리 장비일체

 

상호 : 부경대학교 공동실험실습관 사업자등록번호 : 617-83-03093 대표 : 공동실험실습관장
대연캠퍼스 : 부산광역시 남구 용소로 45 대연캠퍼스 (우:48513) / Tel. (051) 629-6891,6882 / Fax. (051) 629-6899
용당캠퍼스 : 부산광역시 남구 신선로 365 용당캠퍼스 (우:48547) / Tel. (051) 629-5287 / Fax. (051) 629-5296
All Contents Copyright ⓒ 부경대학교 공동실험실습관