X-선을 이용하여 각종 시료의 결정구조와 구성물질의 원소성분분석 등을 행할 수 있는 XRD 및 XRF를 갖추고 있으며 또한, 표면의 형상을 원자단위까지 확대할 수 있는 SPM과 이미지분석용 광학현미경으로 재료학, 지질학, 금속학, 전자공학 등의 연구 및 신소재 개발 분야를 지원하고 있다.

• 각종 무기시료의 결정상 및 성분분석
• 시료표면의 형상분석
• 광학현미경을 이용한 화상분석
• 장비실습교육(XRD)

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담당자 류호정