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Electrophoretic Light Scattering Spectro photometer 제타전위측정장치
  • 제작사 및 모델 : OTSUKA Electronics, ELS-8000

  • 원리
    입경 및 입경분포의 측정: Dynamic Light Scattering 의 원리로 분산상태의 입경 및 distribution을 측정하며 nm 단위의 입자의 크기 및 분포를 알 수 있고 응집이나 침전 유 무를 실시간 모니터 할 수 있는 특징이 있다. - Zeta-Potential 측정 : Electrophoretic Light Scattering 의 원리로 분산 상태에 있는 콜로이드 입자 및 고체 표면의 제타 전위를 측정 할 수 있다. 제타 전위는 부산제의 분산, 응집, 안정성의 지표가 된다.

  • 주요성능
    ① particle size : 3㎚~5㎛
    ② zeta-potential : -100㎷~100㎷
    ③ mobility : -10×10-⁴㎠/Vsec

  • 용 도
    고분자, 무기물, 반도체, 생물, 의약 분야등에서 미립자뿐만 아니라 필름이나 고체 시료의 표 면과학을 취급하는 연구에 응용
    ① 고분자 분야 : 계면활성제, 라텍스 표면재질, 도료흡착제등
    ② 세라믹 분야 : 세라믹 무기물의 표면, 안료등
    ③ 반도체 분야 : 실리콘 웨이퍼 표면, 연마제나 첨가제

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