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X-Ray Diffractometer(XRD) (X-선 회절분석기)
  • 제작사 및 모델 : PHILIPS(Netheland), X'Pert-MPD System

  • 원리 및 주요성능
    결정성물질들의 특징적인 X-선 회절현상을 이용하여 결정상의 정보를 얻어내는 장비이다.

  • 주요성능
    1. 측정범위 : 5~ 160˚(2θ), 상온 ~ 1600℃(고온환경), -193 ~ 300℃(저온환경)
    2. Line focus 3kW Cu-Kα X-ray Tub

  • 용도
    *박막, 분말 및 기타 결정성물질의 구조, 입자크기 및 배양성을 측정
    *온도변화에 따른 결정구조의 변화 측정
    *박막의 특성분석

  • 주요 분석 실적
    ① 분말 및 박막 결정구조 분석
    ② 박막의 기질부 피크를 배제한 2θ 방식의 측정
    ③ 고온,저온 환경에서의 결정구조변화 측정

  • 시료 준비
    ① 230 메쉬(손으로 만졌을 때 입자가 느껴지지 않을 정도) 이하의 분말로 제작
    ② 박막이나 세라믹 같은 시편은 1.8×1.3cm 정도 크기로 두께는 0.3-0.4cm 이내

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