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Scanning Electron Microscope(주사탐침형현미경)
  • 제작사 및 모델 : BRUKER, Icon-PT-PLUS

  • 구입년도 : 2014년 10월 27일

  • 구입가격 : 267,621,690원

  • 원리 및 주요성능
    탐침부와 시료표면 사이에 작용하는 원자간력인 인력과 척력 그리고 터널링 효과 및 자력을 이용하여 표면의 형상을 원자 단위 크기까지 확대가능한 장비이다.

  • 주요성능
    1. 측정배율 : 25~108(1억)배
    2. 분해능 : 수평 0.1nm, 수직 0.1nm
    3. 분석기능: AFM,MFM,EC

  • 용도
    - 반도체, 천연광물, 폴리머 등의 표면분석으로 재료분야의 연구
    - 자장의 형성형태 관찰 등의 자기분야 연구

  • 주요 분석 실적
    ① AFM contact mode, tapping mode 분석
    ② MFM 분석

  • 시료준비
    - 두께 3mm 이내

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