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품 명 (영문, 국문) 모 델 명
Scanning Electron Microscope(EDS부착)
(주사전자현미경)
TESCAN(Czech),VEGA Ⅱ LSU
X-RAY DIFFRACTOMETER
(X-선회절분석기)
Rigaku(Japan), UltimaⅣ
Field Emission Scanning Electron Microscope
(전계방사형 주사전자현미경)
TESCAN(Czech), MIRA 3 LMH In-Beam Detector
Cross-section & Planar milling system
(이온 밀링기)
Gatan(USA), 697 Ilion II

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